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En Datatec, como forma de ayudar cada vez a más clientes en todas las ramas de la Industria, proporcionamos las soluciones para reparación y mantenimiento de sistemas electrónicos de ABI Electronics, que durante sus 30 años de historia se ha convertido en la compañía líder en la fabricación de equipos de prueba, medida y diagnóstico de fallas.

ABI suministra soluciones reconocidas a nivel mundial, para la mayoría de sectores, entre los que destacan:

Telecomunicaciones

Petroleras e Industria Pesada

Automoción y fabricación en general

Transporte (metro, tren, aviación civil)

Fuerzas Armadas, Navales y Aéreas

Educación

Servicios generales, mantenimiento y reparación

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    SOLUCIÓN DE REPARACIÓN Y DIAGNÓSTICO DE PCB´S SYSTEM 8

    El BoardMaster 19” Rack de ABI es un sistema universal de prueba y medida. Es único, versátil, autónomo y fácil de operar. Ofrece la más amplia configuración de instrumentos de test para la detección de fallas en prácticamente todo tipo de PCBs. Es el producto elegido por empresas del sector ferroviario, aeroespacial, militar, automovilístico y telecomunicaciones entre otros muchos. El BoardMaster es la solución elegida por los clientes de ABI ya que ahorra tiempo y dinero a la vez que aumenta la disponibilidad y seguridad de capital. Con la gama completa de instrumentos y la amplia variedad de métodos de prueba se garantiza la mejor cobertura de fallas, el BoardMaster 19” Rack ofrece las últimas herramientas de diagnóstico y reparación, todo ello controlado por un software con el que maximizamos los resultados apoyándonos en la automatización e información detallada de nuestros procesos de reparación. .

    ABI BoardMaster

    SYSTEM 8 AMS, ESCÁNER MATRICIAL AVANZADO

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    El Escáner Matricial Avanzado (AMS) ofrece características nuevas y únicas para el diagnóstico y las pruebas de componentes sin alimentación. utiliza un enfoque novedoso para las pruebas de firma V-I, el SYSTEM 8 AMS aumenta la cobertura del análisis al variar la frecuencia de la señal de prueba para observar la respuesta del DUT (Dispositivo bajo prueba) a lo largo de un rango de frecuencia predefinido. Esto puede permitir encontrar problemas no detectables con otros instrumentos, lo que conlleva una gran reducción de los fallos producidos. 

    El AMS con sus 64 canales (Ampliables hasta 2048)  acelera la toma de datos y las pruebas en dispositivos con gran cantidad de pines, así como las PCBs. Los canales individuales también pueden usarse para un análisis local. 

    Gracias a sus salidas de pulsos configurables, las pruebas dinámicas pueden ejecutarse en dispositivos de activación (triacs, transistores, o SCRs, entre otros) sin tener tensión en la placa.

    SYSTEM 8 ATM, MÓDULO DE PRUEBAS AVANZADO

    El Módulo de Pruebas Avanzado (ATM) es una solución diseñada para la prueba y el diagnóstico de tarjetas y circuitos integrados digitales de todas las familias lógicas, tales como TTL, CMOS, LVTTL y ECL. El módulo ofrece pruebas con y sin alimentación, tanto dentro como fuera de circuito. Con altas especificaciones y hasta 2.048 canales, el módulo es ideal para pruebas a nivel de componente y de tarjeta.

    El Módulo de Pruebas Avanzado es una solución que permite una gran cantidad de pruebas y un diagnóstico de fallos exhaustivo con una gran flexibilidad. Las combinaciones de potentes pruebas aseguran la mejor cobertura de fallos en PCBs o componentes además incluye pruebas funcionales, de conexión, de voltaje, térmica y de firma V-I. Un sistema sofisticado pero fácil de usar, con la mínima intervención humana, asegura que los componentes y las PCBs son probadas de forma eficiente y los fallos son detectados rápidamente.

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    SYSTEM 8 BFL, DETECTOR DE AVERÍAS EN PCB´S DIGITALES

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    El Módulo Detector de Averías en PCBs digitales (BFL) está destinado a probar circuitos integrados digitales TTL / CMOS. Cuenta con 64 canales de test, ofrece pruebas funcionales, tanto en circuito como fuera del mismo, de conexiones y voltaje, así como análisis V-I y térmico. Se pueden combinar hasta 4 módulos para ofrecer un total de 256 canales (en pasos de 64 canales), los cuales permiten comparación en vivo de placas correctas con las placas dañadas.

    Cuenta con una combinación de técnicas de pruebas industriales confirmadas que proporcionan un alto nivel de cobertura de fallos. Las herramientas adicionales son proporcionadas por el Software SYSTEM 8 para mejorar aún más la amplia gama de aplicaciones de la unidad.

    SYSTEM 8 AICT, PROBADOR DE CI´S ANALÓGICOS

    El Módulo Probador de CI’s Analógicos (AICT) es la respuesta a cómo probar dispositivos analógicos. Permite realizar pruebas funcionales en circuitos integrados analógicos y componentes discretos. Todos los dispositivos analógicos comunes pueden probarse de acuerdo a cómo están configurados en la tarjeta. El AICT también es capaz de probar todos tipos de componentes analógicos y digitales a través de la conocida técnica de prueba V-I sin alimentación y completamente configurable, estando equipado con un generador de impulsos para la prueba de componentes activados por puerta (SCRs, Transistores, etc).

    El Probador de CI’s Analógicos puede ser equipado dentro de cualquier caja de PC con una conexión PCI (se necesita un conector de CD-ROM) o dentro de un chasis externo (MultiLink) con conexión USB.

    Módulo AICT

    SYSTEM 8 MIS4, MÓDULO DE INSTRUMENTACIÓN VIRTUAL

    MIS4 ABI

    La Estación de Instrumentación Múltiple (MIS4) concentra en un módulo compacto 8 instrumentos de altas prestaciones para prueba y medida. Ideal para ámbitos de diseño, enseñanza o para uso general como parte de un banco de trabajo, el MIS4 le ahorra tiempo y espacio. Esta estación reúne los siguientes instrumentos:

    • Osciloscopio.
    • Generador de Formas de Onda Arbitrarias.
    • Suministrador de Energía Auxiliar.
    • Módulo de Entrada/Salida Universal.
    • Contador de Frecuencia.
    • Amperímetro.
    • Voltímetro.
    • Ohmímetro.

    SYSTEM 8 PPS, FUENTE DE ALIMENTACIÓN VARIABLE

    La fuente de alimentación programable (PPS) es el módulo de alimentación más ambicioso de ABI desarrollado para la gama SYSTEM 8. Más de 35 años de excelencia en el diseño y la fabricación de productos se aplicaron para la fabricación de esta unidad versátil USB que se adapta a diversos escenarios de prueba y medición. Desde pruebas de producción de volumen bajo a medio, hasta tareas predictivas / correctivas y solución de problemas en PCBs.

     

    PPS

    GENERADOR DE ESQUEMAS REVENG

    ABI RevEng Schematic Learner

    RevEng ofrece un método efectivo para la creación de diagramas de circuitos desde una placa de muestra con calidad profesional. El sistema RevEng comprende un hardware de medida de la continuidad controlado por PC, el software de control RevWin y EdWin, un paquete completo con todas las funciones CAD.

    RevEng “aprende” la conectividad de un circuito de muestra y produce una NetList (una lista con los componentes y sus conexiones). La NetList es exportada a EdWin para crear diagramas de los circuitos con calidad profesional.

    Gracias a él podrás reducir el tiempo dedicado a la búsqueda e identificación de fallos, reemplazar menos componentes, reducir el desecho de tarjetas, generar esquemas de circuito profesionales, o detener y reanudar el proceso en cualquier momento, entre muchos más beneficios.

    Si quieres expandir tu conocimiento sobre este instrumento y su funcionamiento, haz click aquí para acceder a una playlist para descubrir más detalles y características.

     

    JTAGMASTER PROGRAMADOR Y PROBADOR “BOUNDARY SCAN”

    El Programador y Probador JTAGMaster es una solución completamente integrada completa y potente para la prueba, detección de fallos y programación de tarjetas complejas que incluyen dispositivos JTAG. Con este instrumento podrás aumentar tu cobertura de análisis y prueba accediendo a componentes imposibles de medir con sondas. Esta unidad incluye:

    • Un probador “boundary-scan” para observar arbitrariamente los pines individuales y entonces determinar su funcionalidad.
    • Una interfaz de programación diseñada para manejar archivos industriales JAM STALP estándar (Standard Test And Programming Language) y archivos SVF (Serial Vector Format) para enviar instrucciones de programación así como funciones de pruebas al dispositivo.
    JTAGMaster-in-use

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